Понедельник, 25.03.2019, 04:46
Приветствую Вас Гость | RSS
>
Статистика

Онлайн всего: 1
Гостей: 1
Пользователей: 0
Поиск
Календарь
«  Март 2019  »
ПнВтСрЧтПтСбВс
    123
45678910
11121314151617
18192021222324
25262728293031
Архив записей

Сканирующий электронный микроскоп LEO- 1450 с микрозондовым анализатором ISYS с системой EDX (Carl-Zeiss SMT AG, Германия. 2000г.

Используется для изучения морфологии различных геологических и биологических объектов, исследования кинетики роста и поверхностных свойств тонкопленочных структур, а также для определения химического состава тонких слоев геологических, биологических и других объектов. 

Технические характеристики электронного микроскопа 

Разрешающая способность для вольфрамовой нити в высоком вакууме: 3,5 нм

Источник высокого напряжения от 200В до 30 кВ с шагом изменения в 10 В.

Диапазон увеличений - от 15X до 300 000X

Детектор вторичных электронов

Система EDX-анализа - INCAEnergy 200