Название лекции или практического занятия

Лектор

1. Возможности комплекса радиометрических измерений «Прогресс БГ» с альфа радиометром.

Айтеков П.

с.н.с. ИГ

Практические занятия по радиометрии

Айтеков П.

с.н.с. ИГ

2. Инфракрасная спектроскопия – эффективный метод решения научных и прикладных задач физико – химического анализа.

Гафуров М.М.,

д. ф.-м. н., рук. АЦКП

Практический курс ИК спектроскопии.

Гафуров М.М.,

д. ф.-м. н., рук. АЦКП

3. Определение содержания отдельных элементов в различных веществах методами рентгено – спектрального флуоресцентного анализа.

Атаев М. Б.,

н. с. АЦКП

Практическая работа и проведение элементного анализа на рентгенофлуоресцентном спектрометре СПАРК 1-2М.

Атаев М. Б.,

н. с. АЦКП

4. Принципы атомно - абсорбционной спектроскопии и прикладные аспекты.

Абдулаев  М.Ш.

к. х. н., доцент ДГУ

Практические занятия на атомно-абсорбционных спектрометрах КВАНТ – Z. ЭТА и AA-7000F.

Абдулаев  М.Ш.

к. х. н., доцент ДГУ

5. Хроматография, жидкостная и газовая. Теоретические основы и практические аспекты методов анализа.

Абдулаев  М.Ш.

к. х. н., доцент ДГУ

Практические занятия на газовом хроматографе КристалЛюкс-4000 и жидкостном ионном хроматографе «СТАЙЕР»

Абдулаев  М.Ш.

к. х. н., доцент ДГУ

6. Капиллярный электрофорез (основы и прикладные аспекты)

Абдулаев  М.Ш.

к. х. н., доцент ДГУ

Практическая работа на системе капиллярного электрофореза «КАПЕЛЬ-105»

Абдулаев  М.Ш.

к. х. н., доцент ДГУ

7. Возможности сканирующего электронного микроскопа LEO 1450 с микрозондовым анализатором.

Асваров А. Ш.,

к. ф.-м. н., с. н. с. ИФ

Практические занятия по электронной микроскопии и проведению элементного анализа на электронном микроскопе LEO 1450.

Асваров А. Ш.,

к. ф.-м. н., с. н. с. ИФ

8. Физические основы и прикладные возможности люминесцентного анализа.

Зобов Е.М.,

д. ф.-м. н., г. н. с. ИФ

Практические занятия по люминесцентному анализу на спектрально – вычислительном комплексе СДЛ-2.

Зобов Е.М.,

д. ф.-м. н., г. н. с. ИФ

9. ИК-Фурье спектрометр Vertex-70 – современный ИК-спектрометр для проведения  широкого спектра как аналитических, так и научных исследований.

Рабаданов К. Ш.,

к. х. н., с. н. с. АЦКП

Практическая работа на ИК-Фурье спектрометр Vertex-70.

Рабаданов К. Ш.,

к. х. н., с. н. с. АЦКП

10. Лазерная спектроскопия комбинационного рассеяния света (физические основы и прикладные аспекты)

Алиев А.Р.

д. ф.-м. н., г. н. с. ИФ

Практическая работа на спектрометре комбинационного рассеяния ДФС-24

Алиев А.Р.

к. ф.-м. н., г. н. с. ИФ

11. Особенности конфокальной КР-спектроскопии.

Алиев А.Р.

д. ф.-м. н., г. н. с. ИФ и Рабаданов К. Ш.,

к. х. н., с. н. с. АЦКП

Практическая работа на конфокальном КР-спектрометре-микроскопе Senterra.

Алиев А.Р.

д. ф.-м. н., г. н. с. ИФ и Рабаданов К. Ш.,

к. х. н., с. н. с. АЦКП

12. Использование газовой хроматографии, а также газовой хромато-масс-спектрометрии в аналитических целях (объекты исследования, решаемые задачи)

Абдулаев  М.Ш.

к. х. н., доцент ДГУ

Практические занятия по газовой хроматографии на хроматографе КристалЛюкс 4000 и Двухканальном газовом хроматографе c масс-селективным детектором МАЭСТРО МСД.

Абдулаев  М.Ш.

к. х. н., доцент ДГУ

13. Shimadzu XRD-7000S – современный точный порошковый рентгеновский дифрактометр для качественного и количественного фазового анализа моно-, поликристаллов, композитных материалов, наноматериалов; определения концентраций в смешанных фазах; прецизионного определения постоянной кристаллической решетки, длин связей, углов.

Атаев М. Б.,

н. с. АЦКП

и Асваров А. Ш.,

к. ф.-м. н., с. н. с. ИФ

Практическая работа на рентгеновском дифрактометре Shimadzu XRD-7000S.

Атаев М. Б.,

н. с. АЦКП

и Асваров А. Ш.,

к. ф.-м. н., с. н. с. ИФ

14. Электрохимические и потенциометрические методы исследования растворов. Исследования поверхности и межфазных границ, адсорбции.

Свешникова Д.А.

к.х.н., в.н.с. ИПГ

Практическая работа на потенциостате, на PH-метре и иономере

Свешникова Д.А.

к.х.н., в.н.с. ИПГ

15. Измерения удельной поверхности дисперсных и пористых материалов при помощи 4-х точечного метода БЭТ, а также удельной поверхности и пористости по полной изотерме.

Свешникова Д.А.

к.х.н., в.н.с. ИПГ

Комплекс для измерения текстурных характеристик дисперсных и пористых материалов Сорби-MS.

Свешникова Д.А.

к.х.н., в.н.с. ИПГ

16. Лазерный атомно – эмиссионный анализ: метод определения состава металлов и сплавов, поверхностных пленок и покрытий, нетокопроводящих материалов (керамики, полимеров, стекол, почв, минералов, волокон).

Какагасанов М. Г.,

инженер – исследователь АЦКП

Практическая работа по элементному анализу материалов на лазерном атомно-эмиссионном спеткрометре LAES MATRIX

Какагасанов М. Г.,

инженер – исследователь АЦКП