Рентгеновский дифрактометр XRD-7000S (Shimadzu Corp., Япония. 2008г.)

Качественный, количественный и кристаллографический анализ порошков, керамики, поликристаллов и тонких пленок, объектов окружающей среды, природных ресурсов, химикатов, черных, цветных металлов, фарм. препаратов методом рентгеновской дифрактометрии.

Технические характеристики:

Рентгеновская трубка - Cu-анод, 2кВт.

Q-Q вертикальный гониометр с минимальным шагом 0,0001 град. по Q, 0,0002 град по 2Q, независимым перемещением образца и детектора относительно осей Q и 2Q.

Максимальные размеры образца – 400мм x 500мм x 400мм.

Скорость сканирования – 0.1 – 100 град/мин (2Q).

Дополнительные приставки: для вращения образца, для тонких пленок, высоко- и низкотемпературные приставки.